Admin bar avatar

مدرس : دکتر هادی سردارآبادی

مشاهده رزومه مدرس
تاریخ ایجاد : ۱۳۹۹/۹/۳

آشنایی با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)

0 دانشجو

دسترسی سریع

ارتباط با استاد

امکان بازگشت وجه

شما مخاطب گرامی نخست با علت بروز خاصیت مغناطیسی، انواع موادمغناطیسی و خواص مغناطیسی ویژه‌ی نانومواد آشنا شده و سپس با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (Magnetic Force Microscope) آشنا خواهید شد: دسته‌ای از میکروسکوپ‌های پروب روبشی (SPM) که میدان مغناطیسی بالای یک نمونه بسیار مسطح را با کمک نوکه تیز (Tip) فرومغناطیس خود که به یک تیرک (Cantilever) متصل شده است، شناسایی می کند (شکل 1). در پروب این میکروسکوپ طول تیرک 200 میکرومتر، طول نوک تیز 4 میکرومتر، قطر نوکه تیز 50 نانومتر و فاصله  نوکه تیز از سطح نمونه 30 نانومتر است. نیروی مغناطیسی وارد شده بر نوکه تیز بر اساس میزان انحراف تیرک از طریق تغییر در جهت نور لیزر منحرف شده از سطح نوکه تیز تشخیص داده می شود. نیروهای وارد بر پروب در کاربردهای معمولی این میکروسکوپ 30 پیکونیوتن بوده و میزان انحرافات در محدوده نانومتر است. در این دوره شما مخاطب گرامی علاوه بر آشنایی با اصول میکروسکوپ‌های پروب روبشی، با قابلیت‌های ویژه میکروسکوپ نیروی مغناطیسی جهت بررسی خواص مغناطیسی سطوح با رزولوشن نانومتری آشنا خواهید شد.

شکل 1. شماتیک میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)

در این راستا به شما مخاطب گرامی توصیه می‌شود قبل از مشاهده دوره، با اصول میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) آشنا شوید.

  • مواد مغناطیسی (علت بروز و انواع) بخش اول
  • مواد مغناطیسی (علت بروز و انواع) بخش دوم
  • تغییر خواص مغناطیسی در مقیاس نانو
  • میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)

نظرات دانشجویان درباره این دوره