Admin bar avatar

مدرس : دکتر هادی سردارآبادی

مشاهده رزومه مدرس
تاریخ ایجاد : ۱۳۹۹/۱۰/۴

آشنایی میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

0 دانشجو

دسترسی سریع

ارتباط با استاد

امکان بازگشت وجه

ميکروسکوپ نيروی اتمی (AFM) سطح نمونه را با يک نوکه تيز (Tip) رديابی مي‌کند. طول اين نوکه تيز حدود چند ميکرون و قطر آن کمتر از 100 آنگسترم است. نوکه تيز در انتهای آزاد يک تيرک (Cantilever) که طول آن بين 100 تا 200 ميکرون است قرار گرفته است. نيروهای مابين نوکه تيز و سطح نمونه باعث خميدگی تيرک مي‌شوند. يک آشکارساز حساس به موقعیت (PSPD) مقدار انحنای اين تيرک را در حالي که نوکه تيز سطح را روبش می‌کند اندازه گيری مي‌کند. انحناهای اندازه گيری شده تيرک امکان توليد نقشه ای رايانه ای از توپوگرافی سطح را فراهم مي‌کنند. چندین نیرو باعث ایجاد خمیدگی در تیرک میکروسکوپ می‌شوند. معمولترین نیرویی که مرتبط با AFM قرار دارد، نیروی بین اتمی ون در والس ( waalsVan der ) است. نیروی وندروالسی یک نیروی جاذبه بلند برد است که در فاصله 10 نانومتری یا بیشتر احساس می‌گردد. این نیرو ناشی از دوقطبی‌های نوسانی موقتی است. نیروی دیگر نیروی کلومبیک است. این نیرو دافعه که کوتاه برد است و ناشی از برهمکنش میان ابرهای الکترونی اتم‌های سطح نمونه و نوکه تیز کانتیلور است. با کاهش فاصله این نیرو بیشتر احساس می‌گردد. میکروسکوپ AFM می‌تواند در تمامی شرایط و برای تمامی سطوح مورد استفاده قرار گیرد.

در این دوره شما مخاطب گرامی علاوه بر آشنایی با اصول میکروسکوپ‌های پروب روبشی، با قابلیت های ویژه میکروسکوپ نیروی اتمی جهت بررسی سطوح با رزولوشن نانومتری آشنا خواهید شد.

آشنایی اولیه با اصول میکروسکوپ‌های پروب روبشی

  • تشریح و توصیف اجزای عملکرد میکروسکوپ‌ نیروی اتمی
  • تشریح و توصیف اجزای عملکردی تشکیل دهنده میکروسکوپ
  • بهره گیری از خواص پیزوالکتریک توام با فرکانس طبیعی و بررسی مدهای کاری
  • اجزای میکروسکوپ و تشریح مدهای کاری

نظرات دانشجویان درباره این دوره